Chamada para SPG 32 (Os novos desafios da sociologia do trabalho: os impactos da pandemia)

Chamada para SPG 32 (Os novos desafios da sociologia do trabalho: os impactos da pandemia)
Está aberto o período para submissões de propostas de trabalho nos Simpósios de Pesquisa Pós-Graduada (SPG) do 45o Encontro Anual da ANPOCS. O prazo limite é 07/06.Neste ano, o Encontro da ANPOCS ocorrerá entre 19 e 27 de outubro, novamente em plataforma virtual. Os SPGs (assim como os GTs) ocorrerão entre 25 e 27 de outubro.Propondo o SPG "Os novos desafios da sociologia do trabalho", neste ano com foco nos impactos da pandemia.
SPG 32: Os novos desafios da sociologia do trabalho: os impactos da pandemia
Coordenador(es): Thaís de Souza Lapa (UFSC), Ricardo Festi (UnB)
Descrição: 
Este SPG propõe dar continuidade às reflexões iniciadas no 44o Encontro da Anpocs sobre os desafios que as recentes transformações nas configurações laborais colocam às múltiplas áreas que estudam o trabalho. Neste ano, propõem-se que o foco das comunicações reflita sobre os impactos da pandemia da Covid-19 sobre o mundo do trabalho, dando um destaque especial aqueles considerados como “trabalhos essenciais” e se realizam sob maior exposição a riscos. Também serão de interesse discussões sobre a aceleração, pela pandemia, da implementação das novas tecnologias de informação na gestão do trabalho, acentuando a sua flexibilização e precarização, como são os casos do teletrabalho e das plataformas digitais. Os novos debates sobre a opacidade de fronteiras entre os serviços e as indústrias, o home office e o “street office”, as reconfigurações da divisão sexual e racial do trabalho são também estimulados. O objetivo é que os participantes possam tanto caracterizar tais mudanças, como situá-las em um debate mais amplo acerca dos direitos humanos (trabalho decente) e a desigualdade social. Terão prioridades as propostas que visem articular pesquisa empírica com reflexão teórica.
Para mais informações acesse: https://www.anpocs2021.sinteseeventos.com.br/simposio/view?ID_SIMPOSIO=…